Name: ELREPHO
Brand: Datacolor
Availability: InStock

Non sapete da dove cominciare?

Utilizzate il nostro strumento di confronto tra spettrofotometri da banco ' o Rivolgetevi a un esperto del colore '

Progettato per l’industria della carta, l’Elrepho è uno spettrofotometro ad alte prestazioni.

Per il controllo in laboratorio o in produzione di colore, luminosità, opacità, fattori di riflettanza diffusa, giallo e bianco di pasta, carta e prodotti chimici.

Benefici di Elrepho:

Lo spettrofotometro a doppio fascio con geometria ottica diffusa/0º e filtro UV automatico e regolabile è conforme alla norma ISO 2469. In combinazione con il software di controllo qualità Datacolor Tools, supporta le procedure di misurazione per l’industria della carta definite dagli standard ISO, DIN, SCAN e TAPPI.
La configurazione verticale e la visualizzazione del campione attraverso la sfera consentono un funzionamento semplice, misure più rapide e una maggiore produttività.
Le tre tipologie di apertura incluse consentono flessibilità di applicazione dello strumento. Le piastre SAV e USAV consentono di misurare con precisione aree piccole e molto piccole di un campione, mentre la piastra XLAV è consigliata per la misurazione di campioni testurizzati irregolari e campioni testurizzati.
La sorgente luminosa allo xeno incorporata, durevole e pulsata, simula la D65, un obiettivo zoom automatizzato ed i filtri UV cut-off regolabili e automatizzati per le tre lunghezze d’onda e controllare la componente UV della sorgente luminosa .

Tipo di strumento	Strumento da banco verticale
Geometria di misurazione	Illuminazione diffusa Visione a 0º
Sorgente luminosa	Lampada allo xeno pulsata
Diametro della sfera	152 mm/6,0 pollici
Gamma di lunghezze d’onda	Da 360 nm a 700 nm
Intervallo di rilevamento	10 nm
Larghezza di banda effettiva	10 nm
Intervallo fotometrico	Da 0 a 200%
Rilevamento della curva spettrale	Analizzatore di spettro SP2000 con doppio array di 256 diodi e reticolo olografico ad alta risoluzione
Metodo di allineamento della lunghezza d’onda	Tramite l’allineamento del software

20 ripetibilità lettura su piastrelle bianche con doppio flash (CIELAB) (1)	0,02 (max)
Accordo interstrumentale: misure di riflettanza (CIELAB) (1, 2 e 3)	0,4 (max), 0,2 (media)
Lente	Zoom automatico a 3 posizioni
Piastre di apertura	XLAV Apertura 34 mm illuminata e 30 mm misurata SAV Apertura 9 mm illuminata e 5 mm misurata USAV Apertura 6,5 mm illuminata e 2,5 mm misurata
Rilevamento dell’apertura	No
Controllo UV automatizzato	(Calibrazione UV automatica per la misurazione di campioni fluorescenti con filtri di taglio UV a 395 nm, 420 nm e 460 nm)
Filtri a taglio UV	395 nm, 420 nm, 460 nm
Ambiente operativo funzionale (2)	Da 5º a 40º C, da 5% a 85% di umidità relativa senza condensa
Montaggio verticale	Include un visualizzatore di campioni a spioncino e un supporto per campioni su piedistallo.

Peso	19,05 kg / 42 lb
Dimensioni	25,0″ /635 mm (altezza) x 12,3″ /312 mm (larghezza) x 14,25″ /362 mm (profondità)
Requisiti di alimentazione	Da 85 a 264 VCA, da 47 a 63 Hz, 80 VA di picco, 35 VA tipici
Consumo di energia	100VA

Interfaccia dati	RS-232 9600/19200 baud/USB 1.1
Risoluzione fotometrica	0.003%
Trappola nera	Prestazioni elevate

ELREPHO : Controllo qualità per l’industria cartaria

Tutti i modelli sono dotati dei seguenti accessori:

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FAQs

Software

Supporto

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