- Datacolor Elrepho 1000
- echtes Zweistrahl-Spektralphotometer
- eine 152mm Kugel
- eingebaute langlebige gepulste Xenon-Lichtquelle
- automatisches Zoomobjektiv
- einstellbare, automatische UV-Sperrfilter für drei Wellenlängen zur Kontrolle des UV-Anteils der Lichtquelle
- Sechs Fuß langes Stromkabel
- USB-Anschlusskabel
- Schwarzfalle
- Weiße Kalibrierkachel
- Grünkachel zur Überprüfung
- Fluoreszierende Probe zur überprüfung des UV-Anteils
Messblenden: Drei mitgelieferte Messblenden ermöglichen eine flexible Anwendung. SAV- und USAV-Platten ermöglichen die genaue Messung von kleinen und sehr kleinen Bereichen einer Probe, sowie eine XLAV-Platte mit 34 mm Messöffnung, die speziell für Messungen nach ISO 2469 verwendet wird.
- Extra-große Bereichsansicht (XLAV)
- Ansicht eines kleinen Bereichs (SAV)
- Ultra-klein Bereich (USAV)
Datacolor Elrepho |
Merkmal |
Beschreibung |
Instrument Typ |
Zweistrahl-Spektralphotometer |
Messung der Geometrie |
Diffuse Beleuchtung und 0º-Beobachtung gemäß ISO 2469
2469 |
Beleuchtungsquelle |
Gepulste Xenonblitzlampe, gefiltert zur Annäherung an D65 |
Kugeldurchmesser |
152 mm/6,0 Zoll |
Spektral-Analysator |
SPX-Analysator mit doppelter 256-Dioden-Anordnung und hochauflösendem holographischem Gitter |
Wellenlängenbereich |
360 nm bis 700 nm |
Berichtsintervall |
10 nm |
Photometrischer Bereich |
0 bis 200 %. |
Photometrische Auflösung |
0.003% |
Wiederholbarkeit auf der weißen Kachel mit Doppelblitz (20 Messungen, CIELAB) (1) |
0,02 CIEL*a*b*(max) |
Übereinstimmung zwischen den Instrumenten: Reflexionsmessungen (CIELAB) (1, 2 &3) |
0,4 (Maximum ohne schwarze Fliese) CIEL*a*b*, 0,25 (Durchschnitt) CIEL*a*b* |
Probe Temperatur |
XLAV Blendeplatte 34 mm beleuchtet und 30 mm gemessen |
IR-Sensor-Genauigkeit |
±0,9°F/ ±0,5°C |
Objektiv |
3-Positionen, Autozoom |
Erkennung der Blende |
Ja |
Automatisierte UV-Kontrolle |
Automatische UV-Kalibrierung für die Messung von fluoreszierenden Proben mit UV-Sperrfiltern bei 395 nm, 420 nm und 460 nm |
UV-Sperrfilter |
395nm, 420nm, 460nm |
XLAV Blendenplatte |
34 mm beleuchtet und 30 mm gemessen |
LAV Blende
(Optional erhältlich) |
30 mm beleuchtet und 26 mm gemessen |
SAV Blende |
9 mm beleuchtet und 5 mm gemessen |
USAV Blende |
6,5 mm beleuchtet und 2,5 mm gemessen |
Taste für Auslösung am Gerät |
Ja |
Kamera für die Probenposition |
Ja |
Vertikale Montage |
Ja |
Funktionale Betriebsumgebung (2) |
5º bis 40º C, 5% bis 85% nicht kondensierende relative Luftfeuchtigkeit |
Physikalische Spezifikationen |
Farbdisplay |
3,5-Zoll-RGB-LCD |
Display-Auflösung |
320 x 240 Pixel Auflösung |
Gewicht |
24.7 kg / 54.5 lbs |
Abmessungen |
25,0″/ 63,5 cm (Höhe)
12,2″/ 39,9 cm (Breite)
16,3″/ 41,4 cm (Tiefe) |
Leistungsanforderungen |
100 bis 240 VAC, Frequenze 50/60 Hz, Leistungsaufnahme 80 VA |
Leistungsanforderungen |
100 – 240 VAC,
Frequenz 50/60 Hz,
Leistungsaufnahme: 80 VA |
Datenschnittstelle |
USB 2.0 / Ethernet |
(1) Umgebungsbedingungen: Temperatur 23ºC +/- 1ºC Luftfeuchtigkeit 50% +/= 15%
(2) Für zuverlässige Farbmessungen müssen die Bedingungen innerhalb der empfohlenen Betriebsbedingungen liegen.
(3) Die Farbgleichung ist CIELab (D65/10), LAV, spiegelfrei, gemessen an 12 BCRA-Kacheln.
Leistungsanforderungen |
85 bis 264 VAC |
47 bis 63 Hz |
80 VA Spitze |
35 VA typisch |
Absoluter Betriebsbereich |
5º bis 40º C |
5% bis 85% nicht-kondensierende relative Luftfeuchtigkeit |